场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F [正常]

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[ 基本信息 ]

生产国家:日本

制造厂商:捷欧路

建账日期:2022-12-08

规格型号:

[ 分类信息 ]

设备类型:04化学分析仪器, 0403电子显微镜, 040304电子探针(含原子力显微镜、扫描隧道显微镜、扫描探针显微、激光力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜等)

设备编号:待建账-分测-34

[ 联系信息 ]

领用人:曹昆, 任子君, 郭航, 王佳伟, 陈亚楠

存放地址:

操作员姓名:王佳伟

操作员邮箱:wangjw@xjtu.edu.cn

操作员办公电话:13363902033(王老师)

[ 附加信息 ]

实验领域:电子探针(EPMA)主要用于地球科学和材料科学中固体样品表面微区原位主量和微量元素(5B-92U、含量>0.1%)的定量分析,具体功能用途归纳如下: 1. 图像观察:能够同时获得二次电子像、背散射图像、彩色光学显微及上述图象的数字化像。SEI和COMPO像最低放大倍率40倍; 2.波谱和能谱一体化分析:对样品的元素构成进行定点、定线、定面的定性分析,分析精度优于能谱; 3.波谱定量点/线分析:可以设置单点定量分析,多点自动逐点定量分析,沿一条线自动逐点定量分析等;可以设置不同实验条件、不同测试方法自动逐点分析。 4.元素面分布图:可以获得某一区域精细的元素分布特征,能准确反映元素种类及分布情况;同时可以使用“相图生成器”显示元素组成相同但比例不同的相;多高度面分析软件可消除高度影响,实现曲面户或者不平表面样品分析。

其他注意事项:

[ 工作时间 ]

工作时间:2023/02/02-2030/02/02 每天   08:00-08:00

[ 收费信息 ]

实验项目 收费单位 学科内部 学校内部 社会服务

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